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包装系统密封性策略(二):真空衰减法
2020-08-08

原理

  1. 1、将包装容器置于专门的测试腔体内,对测试腔体抽真空,容器内外压差使得容器内部气体通过漏孔进入测试腔体,监测压力变化,将压力变化值与参考值做比较,以判断容器是否合格。检测时间,几秒钟到几分钟。

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 2、测试一个包装之前需针对该包装做相应的方法学验证,建立周期时间(测试真空抽吸的时间、填充时间、平衡时间和测试时间)、压力(目标真空、参考真空)、真空衰减的关键测试参数时需要考虑与包装有关的专业知识和经验。


  3、在测试过程中,时间的参数设置显得更为重要,合适的时间参数能够保证仪器能够达到理想的真空状态;在测试时间内压力上升,能保证仪器能够区分出是由于背景噪音造成还是包装泄漏引起,一般来说测试时间越长,仪器的灵敏度越高,但是也应当考虑包装内的气体会不会在测试时间内被抽完,影响结果判断。

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模拟样品制备

★阴性样品:制作与样品同体积的无泄漏模拟物

★阳性样品:用激光打孔制作相应孔径大小的模拟物

★普通样品:实际检测样品,验证取样量需符合相关技术要求

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▼方法学验证:准确度(测试时间验证)
具体内容:使用无泄漏模拟物或阴性样品与阳性瓶来模拟漏瓶样品,探索Test Time与真空度(ΔP)参数。
接受标准:选择ΔP最大值为测试时间


▼方法学验证:线性

具体内容:通过微孔泄漏仪测试与真空度(ΔP)参数之间的线性关系
接受标准:当R2值大于0.999时判定合格

▼方法学验证:检测限(灵敏度)
具体内容:通过对阴性样品多次的重复测定确定“AVG+3*SD”值,然后再通过阳性样品的测试与该值比较判断最小检出限,最后对最小微孔阳性样品的多次测定得出AVG-3*SD来确定最终ΔP的参数。
接受标准:阳性产品最终剔除值的取值介于阴性样品的“AVG+3*SD”值与模拟阳性样品的“AVG-3*SD”值之间

▼方法学验证:产品不合格剔除值盲测验证
具体内容:通过不同级别漏孔的阳性样品和阴性样品,在合格、不合格测试过程中,随机抽取放入测试腔体中进行测试。每组测试中的排列组合(测定顺序)为随机。最后验证数据通过揭盲比对判断阳性检出率。
接受标准:100%检出阳性样品

▼方法学验证:中间精密度
具体内容:不同实验员在2天不同时间段多次测试最小阳性样品ΔP
接受标准:RSD≤15%

▼方法学验证:大漏检出限
具体内容:通过不同孔径的阳性瓶来寻找与初始压力值差别大小判断
接受标准:与初始压力值差别最大的阳性瓶判断为大漏检出限

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